产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > 日本J-RAS >J-RAS
  • HVUα-2000J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
    HVUα-2000J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
    J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2024-10-17    访问量:2579    型号:HVUα-2000
    查看详情
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
Baidu
map