168星空娱乐彩票
J-RAS ECMr离子迁移试验装置,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHO
更新时间:2024-10-14 访问量:182 型号:ECMr-1000-n/ECMr-1000-n
168星空娱乐彩票