日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试

日本J-RAS离子迁移测试装置
追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。

ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。

作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

高机能

*用PC设定试验条件之后，就可以不使用PC来继续进行试验。

*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。

*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的

*没有通信机能的HAST/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度

产品优势

简单/便利

△采用高性能驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。

△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。

△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。

高性能&高机能

△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。

→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。

△一台电脑最大可以增设400通道。

△每个通道可以设定不同的电压。

可靠性更高&操作更简洁

△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。

△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。

△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。

△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

用途

△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。

△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。

实例

△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。

△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。

△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。