J-RAS离子迁移试验装置（CAF）绝缘电阻值测试，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

J-RAS离子迁移试验装置 绝缘可靠性评估，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS代理离子迁移试验装置 CAF测试，J-RAS离子迁移试验装置（CAF）ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

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