加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验
Hast试验箱是在非饱和湿度(65%~100%RH可调)、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。 一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
Hast试验箱
上面我们知道了什么是Hast试验箱，那么我们在使用时进行可靠性指标分配时的注意事项有哪些呢?下面让我们一起来了解一下吧。
(1)Hast试验箱可靠性指标分配是一项严肃的工作，当设备系统或分系统的指标确定以后就要认真对待。凡是通过努力能够实现的指标，各分系统都要去努力实现，应该保证本分系统的可靠性达到或高于所分配的指标。系统总体可靠性负责人要善于昕取各分系统负责人的意见。但是，还须严格执行局部服从全局的原则。
(2)在指标分配的基础上，各分系统不要局限于分配的指标，要大胆地采用新技术和新材料，要想方设法改进系统的可靠性。
(3)在设备研制过程中，可靠性分配工作不止进行一次。随着研制工作的不断深入，研制时间的向前推移，技术上的不断改进等，分配给各分系统的可靠性指标要适时地进行调整，使指标分配得更合理，更切合使用要求。由于某些产品的研制时间比较长，如果分配给各分系统的指标搞“终身制"的话，将使系统的可靠性指标落后于技术发展及使用要求而变得毫无价值。
(4)影响设备可靠性的因素很多，进行可靠性分配时，要考虑那些主要的因素，不必面面俱到。
(5)可靠性分配是基于以下基本假设进行的：
①全部元器件的失效率均为常数：
②当每个分系统都正常工作，在小于任务时间的时间内，认为失效率为零，即不发生失效，在零时刻没有任何分系统工作;
③每个分系统对系统失效的影响受其自身工作时间、工作方式和复杂性等因素的加权的影响;
④系统复杂性归一化为1，各分系统的复杂性之和就等于系统的复杂性;
⑤系统失效率是各分系统失效率的加权和。
(6)系统的可靠性指标分配前应乘以(1+ψ)系数(其中ψ=0.02～0.2)后再行分配。其中ψ称为可靠系数。因为分配中有些因素考虑不到，有些因素被忽略，乘以一个大于1的系数后，可以使系统的可靠性指标更有保证。
(7)目前各种书中介绍的可靠性分配方法比较多。即使是同一种分配方法也有多种名称。经过查阅较多资料，对比分析，归结起来，其基本方法无非是从失效率相对比较、重要度或复杂性等方面考虑。
因此，在选用分配方法时，一定要紧紧地结合工作实际，特别要注意根据自己手中掌握的数据和资料，从方法的适用性、简便性、经济性及与工程实际的一致性方面去考虑，选择好的方法。
Hast试验箱可靠性分配工作要进行多次，不能一劳永逸，这一点要特别注意。
