离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ) , 经过长时间的测试(1 ～1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ) , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )
在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
通过最大3000 V的直流偏置，为TDDB器件提供了高电压、高电压的离子迁移，并对器件进行了绝缘。高压电路板，高空隙件。
另外，HVUα系列还可以测试两个机架和电池之间的太阳系统漏电，HVUα系列可在每个通道上设置电压50-3000V。
检测绝缘退化征
纳米钠的TANS高性能检测电路可实现瞬时电流的运动和局部放电。
★在所有信道中都能检测到绝缘性退化，如局部放电或瞬间短路，这是无法进行数据采集的。
★它能够在早期阶段预测最终结果，并有可能提出下一步该做什么。
★可以通过显示电阻图和局部放电来找出瞬时绝缘降解和下降电阻的相关性。
精确输入偏差
HVUα系列提供在每条通道上设置不同的输入偏置，通过反馈输入每个通道的偏置，HvUa系列可以在任何时候输入正确的设定偏差。
用简化的测试仪，当绝缘电阻运动时，实际的输入偏置会发生变化，通过设定偏差和实际偏差的差异造成错误的评估。
高可靠性不使用机械继电器
HVUα系列没有机械式继电器，这就是为什么它是故障的最主要原因。不稳定。HvUo系列在每个通道上都有电力和测量电路。
低噪声测量有源保护电缆
使用主动保护电缆，防止外界噪音。这是先进的测量小电流(高电阻)比典型的屏蔽电缆。
此外，为了减轻高频信号的衰减，将改善局部放电的检测性能。
检测每个通道上的快速检测功能
HVUα系列在每条通道上都有短路的检测电路，并在毫秒甚至3000伏的电压下切断偏置。HVUα系列将不会输入功率超过必要的NG样品，并削减输入偏置一旦输入偏置电缆触摸在没有意图的案件室。这是为了安全。
