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什么是离子迁移现象？
形成枝晶是电极间短路的现象。
离子迁移现象的特征：
●会在良好的绝缘的状态下突然发生。
●短路的瞬间，因为自身电流的能量（焦耳热），枝晶被烧损，然后恢复绝缘电阻。
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所以很容易变成瞬间的绝缘劣化现象。
离子迁移的信赖性试验的作用：
●在某些领域是重大故障
●即便是瞬间的短路现象，在现在高速数字化处理电路中诱发错误动作，在某些情况，有发展成为重大故障的风险。
试验方法是否有效？
现广泛被使用的槽外计测，离子迁移现象是检测不出的。所以，NG的测试样品也直接被认定OK了。
市面上的迁移试验装置是否都能进行准确检测？
离子迁移是瞬间现象。即便是持续的监视试验装置，通道扫描或数据处理需要一定时间，正确地捕捉现象进行适当的处理就变得很难。
作为试验装置的重要事项
●有能力准确检测出发生枝晶的瞬间短路现象。
●在多个样品同时测试中，什么时候哪个样品发生离子迁移，都可以检测到。
●为了预防枝晶烧损，显微镜观察时等的证据可以查看。
高速抽样处理
●J-RAS是业界最高速，16msec（62.5S/s）。
●能够进行离子迁移的瞬间现象捕捉。
●不只是单一的短路现象事件，而是作为电阻值的连续数据被记录。
因离子迁移现象导致的电阻值变化如以下情况：
高速抽样处理的情况：
抽样处理慢的情况：
高速与普通处理，检测结果有很大偏差：
全部通道同时抽样处理：
●J-RAS是所有通道的数据同时抽样处理。
●假如离子迁移现象同时多个通道发生，数据也不会漏掉。更准确高效得检测样品。
多个通道同时发生离子迁移现象的情况如下：
单一AD扫描的话，与通道数成反比例，发生通道数越多越不准确。
每个通道都分别配有AD，可以同时监测所有通道。
J-RAS的模拟电路能够防止枝晶烧损
●设备配有电流限制电路，即便枝晶短路，也不会给样品输入超范围的电力。
●高速16msec的抽样处理，及时检出电阻值低下，把模拟电路的偏压输出功率及时停止。（根据判定条件设定）
高速、多通道同时抽样，J-RAS能够大量数据并行处理。
简而言之，J-RAS设备的高速、多通道并行处理，能够更可靠的检测出迁移现象。
